薄膜測厚儀是一種用于測量材料表面涂層或薄膜厚度的精密儀器，廣泛應(yīng)用于磁性材料、非磁性金屬、塑料、玻璃等表面的涂層厚度檢測。
針對磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層，
薄膜測厚儀的測量原理、方法及注意事項如下：
1.測量目標(biāo)分析
磁性材料上的非磁性涂層：
磁性材料（如鐵、鋼）本身具有磁性，而非磁性涂層（如油漆、鋅、鉻等）無磁性。
需要區(qū)分磁性基底與非磁性涂層的厚度。
非磁性金屬上的絕緣涂層：
非磁性金屬（如鋁、銅、不銹鋼）本身無磁性，絕緣涂層（如陶瓷、聚合物、氧化層等）也無磁性。
需要精確測量絕緣層的厚度。
2.薄膜測厚儀常用測量原理
（1）磁感應(yīng)原理（磁性法）
適用場景：磁性基底上的非磁性涂層（如鋼鐵上的油漆、鍍鋅層）。
原理：
探頭產(chǎn)生磁場，磁場通過磁性基底時強(qiáng)度較高，但遇到非磁性涂層時磁場強(qiáng)度減弱。
通過測量磁場變化，計算涂層厚度。
優(yōu)點(diǎn)：
非接觸式測量，不會損傷涂層。
對磁性基底敏感，測量精度高。
局限性：
僅適用于磁性基底上的非磁性涂層。
無法測量非磁性基底上的涂層。
?。?）渦流原理（電渦流法）
適用場景：非磁性金屬上的絕緣涂層（如鋁、銅上的氧化層或聚合物涂層）。
原理：
探頭產(chǎn)生高頻交變磁場，在導(dǎo)電的非磁性金屬基底中感應(yīng)出渦流。
渦流的強(qiáng)度受涂層厚度影響，通過檢測渦流變化計算涂層厚度。
優(yōu)點(diǎn)：
適用于非磁性金屬基底。
可測量導(dǎo)電基底上的絕緣涂層。
局限性：
需要校準(zhǔn)，受金屬材料的導(dǎo)電性影響。
不適用于非導(dǎo)電基底。
?。?）超聲波原理（超聲法）
適用場景：各種基底（磁性或非磁性）上的涂層，尤其是較厚涂層。
原理：
探頭發(fā)射超聲波，超聲波在涂層和基底之間反射，通過接收反射信號的時間差計算涂層厚度。
優(yōu)點(diǎn)：
適用于多種基底和涂層類型。
可測量較厚涂層。
局限性：
需要耦合劑（如甘油或水），且表面需平整。
測量速度較慢。
?。?）光學(xué)原理（光干涉法、共聚焦法）
適用場景：表面光滑、反射率高的涂層（如金屬上的透明薄膜）。
原理：
通過光學(xué)干涉或共聚焦技術(shù)，測量涂層表面的高度差，計算厚度。
優(yōu)點(diǎn)：
非接觸式，精度高。
適用于微小厚度測量。
局限性：
對表面粗糙度要求高。
不適用于深色或吸光性強(qiáng)的涂層。
更新時間：2025-06-23 
瀏覽次數(shù)：5
您的位置：