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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100本裝置以透明試樣為對(duì)象，通過平行尼可光譜法測(cè)定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動(dòng)計(jì)算雙折射N。
產(chǎn)品型號(hào)：PAM-UHR100廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2024-10-10訪 問 量：377
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日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100 特點(diǎn)介紹
本裝置以透明試樣為對(duì)象，通過平行尼可光譜法測(cè)定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動(dòng)計(jì)算雙折射N。
■特點(diǎn)
測(cè)定方式
平行尼科耳分光
樣品尺寸
□40mm、厚度3mm以下
測(cè)定項(xiàng)目
相位差、取向角、雙折射
日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100 規(guī)格參數(shù)
規(guī)格內(nèi)容測(cè)定對(duì)象透明拉伸膜（PC，PET等）測(cè)定項(xiàng)目相位差、取向角、雙折射（相位差范圍約800～20000nm）試樣尺寸□40mm厚度3mm以下系統(tǒng)結(jié)構(gòu)測(cè)定裝置主體、筆記本電腦（OS:Windows7/Vista/XP）溫濕度條件10～35°C、20～80%RH（但不結(jié)露）電源AC100V±10%、50/60Hz
偏光軸方位、配向角、位相差
測(cè)定対象
光學(xué)薄膜、偏振板
測(cè)定原理
旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法
測(cè)定時(shí)間
約4秒（偏振軸測(cè)量）
測(cè)定波長(zhǎng)
590nm（可選=450nm、630nm等）
樣品尺寸
30mm~250mm，t=20mm以下
系統(tǒng)配置
測(cè)定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）
主體尺寸
W380XH390 XD610 mm
本體重量
27kg
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